SIMS International XV

  • Jérémy Brison (Orateur)

Activité: Participation ou organisation d'un événement › Participation à une conférence, un congrès

Description

Cesium/Xenon dual beam depth profiling: velocity of the sputtered atom and ionization probability, communication orale.
Période12 sept. 2005 → 16 sept. 2005
Type d'événementUne conférence
LieuManchester, Royaume-UniAfficher sur la carte