SIMS International XIV

  • Jérémy Brison (Orateur)

Activité: Participation ou organisation d'un événement › Participation à une conférence, un congrès

Description

Cesium/Xenon dual beam depth profiling with ToF-SIMS: measurement and modeling of M+, MCs+, and M2Cs2+ yields, communic
Période28 avr. 2008
Type d'événementUne conférence
LieuSan Diego CA, Etats-UnisAfficher sur la carte