SIMS International XIV

Jérémy Brison (Orateur)

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

Description

Cesium/Xenon dual beam depth profiling with ToF-SIMS: measurement and modeling of M+, MCs+, and M2Cs2+ yields, communic
Période28 avr. 2008
Type d'événementUne conférence
LieuSan Diego CA, Etats-Unis