SIMS Europe 2018

Houssiau, L. (Orateur)

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

Description

Depth profiling of multilayered stacks by low-energy monatomic beams: achievements and challenges for the analysis of modern devices.
Période16 sept. 2018 - 18 sept. 2018
Type d'événementUne conférence
LieuMünster, Allemagne
Niveau de reconnaissanceInternational