SIMS Europe 2018

Activité: Participation ou organisation d'un événement › Participation à une conférence, un congrès

Description

Depth profiling of multilayered stacks by low-energy monatomic beams: achievements and challenges for the analysis of modern devices.
Période16 sept. 2018 → 18 sept. 2018
Type d'événementUne conférence
LieuMünster, AllemagneAfficher sur la carte
Niveau de reconnaissanceInternational