sims europe 2012

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

Description

2 conferences : "The cesium effect during the depth profiling of organic layers investigated using TOF-SIMS and XPS" "Comparison of cesium, fullerene and large argon clusters for the molecular depth profiling of amino-acid multilayers"
Période9 sept. 201212 sept. 2012
Type d'événementUne conférence
LieuMünster, Allemagne