SIMS Europe 2006

  • Roumen Vitchev (Orateur)

Activité: Participation ou organisation d'un événement › Participation à une conférence, un congrès

Description

Study of the transient effects during ToF-SIMS depth profiling of Si. Co-auteurs : J. Brison et L. Houssiau.
Période24 sept. 2006 → 26 sept. 2006
Type d'événementUne conférence
LieuMunster (Germany)Afficher sur la carte