SIMS Europe 2006

Vitchev, R. (Orateur)

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

Description

Study of the transient effects during ToF-SIMS depth profiling of Si. Co-auteurs : J. Brison et L. Houssiau.
Période24 sept. 200626 sept. 2006
Type d'événementUne conférence
LieuMunster (Germany)