SIMS Europe 2004

Vitchev, R. (Orateur)

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

Description

ToF-SIMS Depth Profiles of HfO2/Al2O3 Ultrathin Multilayers. Co-auteurs : L. Houssiau, T. Conard et H. Bender
Période26 sept. 200428 sept. 2004
Type d'événementUne conférence
LieuMunster, Allemagne