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SIMS Europe 2002
Roumen Vitchev (Orateur)
Universite de Namur
Activité
:
Participation ou organisation d'un événement
›
Participation à une conférence, un congrès
Description
Cs+ and Xe+ depth profiling of ultra-thin SiO2 and Al2O3 films of different thicknesses. Co-auteurs : L. Houssiau et J. Brison.
Période
15 sept. 2002
→
17 sept. 2002
Type d'événement
Une conférence
Lieu
Munster, Allemagne
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