SIMS Europe 2002

Vitchev, R. (Orateur)

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

Description

Cs+ and Xe+ depth profiling of ultra-thin SiO2 and Al2O3 films of different thicknesses. Co-auteurs : L. Houssiau et J. Brison.
Période15 sept. 200217 sept. 2002
Type d'événementUne conférence
LieuMunster, Allemagne