Nanobeams meeting

Brison, J. (Orateur)

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à un atelier/workshop, un séminaire, un cours

Description

On the understanding and the optimization of ToF-SIMS depth profiles by co-sputtering cesium and xenon, communication orale.
Période10 nov. 2006
Type d'événementRéunion
LieuLouvain-la-neuve, UCL, Belgique