Ion Beam Analysis Francophone

    Activité: Participation ou organisation d'un événement › Participation à une conférence, un congrès

    Description

    Communications orales : "Analyse quantitative d'elements legers a l'interface (G. Terwagne)" et "Luminescence du SiO2 implante en silicium sous faisceau d'ion (J.Demarche et G. Terwagne)" Communications poster : "SIMTarget, un outil informatiq
    Période15 nov. 2010 → 18 nov. 2010
    Type d'événementColloque
    LieuNamur, FUNDP, BelgiqueAfficher sur la carte

    Documents et liens