Ion Beam Analysis 2019

COLAUX, J. (Orateur)

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

Description

Tutorial on Ion Beam Analysis: Thin film depth profiling by ion beam analysis: a comparison to other analytical techniques
Période12 oct. 2019
Type d'événementUne conférence
LieuAntibes, France
Niveau de reconnaissanceInternational