European PhD school on "nanoanalysis using finely focused ion and electron beams"

Douhard, B. (Participant)

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à un atelier/workshop, un séminaire, un cours

Description

"secondary ion mass spectroscopy (SIMS), Transmission Electron Microscopy (TEM), Auger Electron Spectroscopy (AES) : a comprehensive overview"
Période21 nov. 2005
Type d'événementFormation
LieuBelvaux, Luxembourg