EMC 2008 - 14th European Microscopy Congress

Pireaux, J. (Orateur)

Universite de Namur

Activité: Participation ou organisation d'un événement › Participation à une conférence, un congrès

Description

"HRTEM and STXM, a combined study of an individual focused-ion-beam patterned CNT" A. Felten, X. Ke, S. Bals, X. Gillon, J.J. Pireaux, E. Najafi, A.P. Hitchcock, C. Bittencourt, G. Van Tendeloo "STXM-NEXAFS of individual titanate-based nanoribbon" C.

Période	1 sept. 2008 → 5 sept. 2008
Type d'événement	Une conférence
Lieu	Aachen, AllemagneAfficher sur la carte