EMC 2008 - 14th European Microscopy Congress

Pireaux, J. (Orateur)

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

Description

"HRTEM and STXM, a combined study of an individual focused-ion-beam patterned CNT" A. Felten, X. Ke, S. Bals, X. Gillon, J.J. Pireaux, E. Najafi, A.P. Hitchcock, C. Bittencourt, G. Van Tendeloo "STXM-NEXAFS of individual titanate-based nanoribbon" C.
Période1 sept. 2008 - 5 sept. 2008
Type d'événementUne conférence
LieuAachen, Allemagne