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Coherent transport and scanning gate microscopy in graphene devices
Sporken, R.
(Membre du Jury)
Namur Institute of Structured Matter
Activité
:
Examens
›
Thèse externe
Période
19 déc. 2016
Candidat
Damien Cabosart
L'examen a eu lieu à
Université Catholique de Louvain