AVS 53rd International Symposium

Vitchev, R. (Orateur)

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

Description

Transient effects during Cs/Ga dual beam ToF-SIMS profiling: experiment and simulation. Co-auteurs : J. Brison et L. Houssiau.
Période12 nov. 200617 nov. 2006
Type d'événementUne conférence
LieuSan Francisco, Etats-Unis