7th International Conference on Non Destructive Testing and Microanalysis for the Diagnostics and Conservation of the Cultural and Environmental Heritage (ART 2002)

Activité: Participation ou organisation d'un événement › Participation à une conférence, un congrès

Description

Conferencier invite : "Non destructive ion beam techniques for the depth profiling of elements in Amerindian gold jewelry artefacts" (co-auteur : J.-L. Ruvalcaba-Sil, UNAM, Mexico)
Période2 juin 2002 → 6 juin 2002
Type d'événementUne conférence
EmplacementAnvers, UIA, BelgiqueAfficher sur la carte