4th European Workshop on Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS Europe 2004

Activité: Participation ou organisation d'un événement › Participation à une conférence, un congrès

Description

ToF-SIMS depth profiles of HfO_{2/Al_{2O₃ ultrathin multilayers, communication orale.

Co-auteurs : R.G. Vitchev, T.Conard et H. Bender.}}

Période	26 sept. 2004 → 29 sept. 2004
Type d'événement	Une conférence
Lieu	Munster, AllemagneAfficher sur la carte