3rd European Workshop on Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS Europe

Activité: Participation ou organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

Description

Cs+ and Xe+ depth profiling of ultrathin SiO2 and AlO2 films of different thicknesses, communication orale. Co-auteur&
Période15 sept. 200217 sept. 2002
Type d'événementUne conférence
LieuMunster, AllemagneAfficher sur la carte