35th Applied Image Pattern Recognition Workshop (AIPR 2006)

Activité: Participation ou organisation d'un événement › Participation à une conférence, un congrès

Description

Theory and Application of Model-based Image Analysis
Période11 oct. 2006 → 13 oct. 2006
Type d'événementColloque
LieuWashington DC, USAAfficher sur la carte

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