20th International Conference on Ion Beam Analysis

    Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

    Description

    Poster : "Cross section measurements of the (alpha,p) and (alpha,alpha) reactions on silicon between 3.5 and 6 MeV"
    Période10 avr. 201115 avr. 2011
    Type d'événementColloque
    LieuItapema, Bresil