15th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS XV)

Brison, J. (Orateur)

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

Description

Cesium/xenon dual beam depth profiling: nature of the sputtered atom and ionization probability, communication orale. Co-auteurs : R. Hubert, T. Conard, W. Vandervorst et L. Houssiau.
Période12 sept. 200516 sept. 2005
Type d'événementUne conférence
LieuManchester, Royaume Uni