14th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS XIV)

Activité: Participation ou organisation d'un événement › Participation à une conférence, un congrès

Description

ToF-SIMS applied to probe bixin in Bixa orellana seeds, communication orale. Co-auteurs : M. Felicissimo, C. Bittencourt et J.J. Pireaux. ToF-SIMS Depth-profiling of Hf and Al composition variations in ultrathin mixed HfO
Période14 sept. 2003 → 19 sept. 2003
Type d'événementUne conférence
LieuSan Diego CA, Etats-UnisAfficher sur la carte