14th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS XIV)

Jérémy Brison (Orateur)

Universite de Namur

Activité: Participation ou organisation d'un événement › Participation à une conférence, un congrès

Description

Cesium/xenon dual beam depth profiling: A new approach for semi-quantitative depth profiles with ToF-SIMS, communication orale. Co-auteurs : T. Conard, W. Vandervorst et L. Houssiau.

Période	14 sept. 2003 → 19 sept. 2003
Type d'événement	Une conférence
Lieu	San Diego CA, Etats-UnisAfficher sur la carte