11th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'05)

Houssiau, L. (Orateur)

Activité: Types de Participation ou d'organisation d'un événementParticipation à une conférence, un congrès

Description

Cesium/xenon dual beam depth profiling : influence of the sputtering parameters on the MCsn+ emission, poster. CO-auteur : J. Brison.
Période25 sept. 200530 sept. 2005
Type d'événementUne conférence
LieuVienne, Autriche