Caractérisation de l'interface cuivre-polymère à basse constante diélectrique (SiLK*)

: influence de traitements plasma O<sub>2</sub> et N<sub>2</sub>

  • Jean-Jacques Lemaire

Student thesis: Master typesMaster in Physics

Abstract

Date of Award1999
LanguageFrench
SupervisorJean-Jacques Pireaux (Supervisor)

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Caractérisation de l'interface cuivre-polymère à basse constante diélectrique (SiLK*): influence de traitements plasma O<sub>2</sub> et N<sub>2</sub>
Lemaire, J. (Author). 1999

Student thesis: Master typesMaster in Physics