Dispositivo para la deteccion selectiva de gas benceno, procedimiento para su obtenccion y deteccion del gas con el mismo

E Llobet; R. Leghrib; Jean-Jacques Pireaux; Alexandre Felten; François Reniers; N. Claessens; F. Demoisson; A Mansour; Henri-Noël Migeon; J Guillot; M Delgado

Dispositivo para la deteccion selectiva de gas benceno, procedimiento para su obtenccion y deteccion del gas con el mismo

E Llobet (Inventor), R. Leghrib (Inventor), Jean-Jacques Pireaux (Inventor), Alexandre Felten (Inventor), François Reniers (Inventor), N. Claessens (Inventor), F. Demoisson (Inventor), A Mansour (Inventor), Henri-Noël Migeon (Inventor), J Guillot (Inventor), M Delgado (Inventor)

Namur Research Institute for Life Sciences

Research output: Patent

Original language	Spanish
Patent number	P200930969
Publication status	Published - 2009

Synthesis, Irradiation and Analysis of Materials (SIAM)
Louette, P. (Manager), Colaux, J. (Manager), Felten, A. (Manager), Tabarrant, T. (Operator), COME, F. (Operator) & Debarsy, P.-L. (Manager)
Technological Platform Synthesis, Irradiation and Analysis of Materials
Facility/equipment: Technological Platform

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TY - PAT

T1 - Dispositivo para la deteccion selectiva de gas benceno, procedimiento para su obtenccion y deteccion del gas con el mismo

AU - Llobet, E

AU - Leghrib, R.

AU - Pireaux, Jean-Jacques

AU - Felten, Alexandre

AU - Reniers, François

AU - Claessens, N.

AU - Demoisson, F.

AU - Mansour, A

AU - Migeon, Henri-Noël

AU - Guillot, J

AU - Delgado, M

PY - 2009

Y1 - 2009

M3 - Brevet

M1 - P200930969

ER -

Dispositivo para la deteccion selectiva de gas benceno, procedimiento para su obtenccion y deteccion del gas con el mismo

Equipment

Synthesis, Irradiation and Analysis of Materials (SIAM)

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