Caracterizacion de sistemas de multicapas metalicos mediante PIXE diferencial y RBS

Jose-Luis Ruvalcaba-Sil, J.G. Morales, M. Munoz, A. Oliver, L. Rodriguez Fernandez, J. Miranda, Guy Demortier

Research output: Contribution to journal › Article

Original language	Spanish
Pages (from-to)	274-279
Number of pages	6
Journal	Avances en Analisis por Tecnicas en Rayos X, VI Seminario Latinoamericano de Analisis por Tecnicas de Rayos X, SARX'98
Volume	Vol. X
Publication status	Published - 2000

Cite this

@article{7540571dd5b0441db9241b2ec4d717cb,

title = "Caracterizacion de sistemas de multicapas metalicos mediante PIXE diferencial y RBS",

author = "Jose-Luis Ruvalcaba-Sil and J.G. Morales and M. Munoz and A. Oliver and {Rodriguez Fernandez}, L. and J. Miranda and Guy Demortier",

year = "2000",

language = "Espagnol",

volume = "Vol. X",

pages = "274--279",

journal = "Avances en Analisis por Tecnicas en Rayos X, VI Seminario Latinoamericano de Analisis por Tecnicas de Rayos X, SARX'98",

}

TY - JOUR

T1 - Caracterizacion de sistemas de multicapas metalicos mediante PIXE diferencial y RBS

AU - Ruvalcaba-Sil, Jose-Luis

AU - Morales, J.G.

AU - Munoz, M.

AU - Oliver, A.

AU - Rodriguez Fernandez, L.

AU - Miranda, J.

AU - Demortier, Guy

PY - 2000

Y1 - 2000

M3 - Article

VL - Vol. X

SP - 274

EP - 279

JO - Avances en Analisis por Tecnicas en Rayos X, VI Seminario Latinoamericano de Analisis por Tecnicas de Rayos X, SARX'98

JF - Avances en Analisis por Tecnicas en Rayos X, VI Seminario Latinoamericano de Analisis por Tecnicas de Rayos X, SARX'98

ER -